M-Z光學(xué)干涉型二維電場傳感器工作點.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、光學(xué)電場傳感器相對于電學(xué)電場傳感器具有抗電磁干擾能力強,帶寬大,體積小等優(yōu)點,因此在電場測量領(lǐng)域有著優(yōu)勢。隨著光學(xué)傳感器的發(fā)展,經(jīng)過了制作工藝改良以及系統(tǒng)結(jié)構(gòu)優(yōu)化之后,傳感器性能得到了進一步提升。但是在實際應(yīng)用過程中,基于鈮酸鋰晶體為核心材料的M-Z光干涉型電場傳感器仍然會產(chǎn)生工作點漂移的問題。工作點漂移問題會直接的影響空間電場信號的測量,因此需要對系統(tǒng)的工作點進行控制,使器件在變化的環(huán)境中穩(wěn)定在適宜傳感的狀態(tài)。
  對于M-Z型

2、光干涉型電場傳感器測量脈沖電場時出現(xiàn)的工作點漂移問題,本文針對單光源驅(qū)動的二維電場傳感系統(tǒng),設(shè)計了工作點控制系統(tǒng),采用了調(diào)整光源輸出波長的方法進行工作點的調(diào)整,并通過波形恢復(fù)方法進一步提高測量精度,并對系統(tǒng)中的噪聲問題做出了分析。具體內(nèi)容如下:
  (1)分析了光學(xué)電場傳感系統(tǒng)工作點漂移的原理,針對單光源驅(qū)動的二維傳感系統(tǒng),分析其工作點漂移區(qū)別于一維傳感器的特點。
 ?。?)針對工作點漂移的問題,采用了波長可調(diào)諧光源和非對稱

3、光波導(dǎo)M-Z型器件,設(shè)計了工作點控制電路以及波長選擇方法。對傳感系統(tǒng)進行了公式推導(dǎo)和仿真。采用實驗驗證了系統(tǒng)的性能與不足。實驗證明,控制系統(tǒng)將雙傳感器件的工作點均穩(wěn)定在了可傳感的區(qū)域。
 ?。?)為了解決在單光源驅(qū)動雙器件的情況下,采用上述工作點控制系統(tǒng)后,產(chǎn)生的傳感精度低于最佳工作點現(xiàn)象。本文結(jié)合脈沖電場的特點,對二維電場傳感器的傳感波形進行優(yōu)化,提高傳感波形的精度。本文分析了波形恢復(fù)的原理,對其實驗可行性進行了驗證,并對傳感波

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