1、隨著集成電路工藝的發(fā)展，特征尺寸的減小，電源電壓的降低，頻率的升高，使得處理器對干擾變得更加敏感，特別是航天器處于宇宙射線和高能粒子的輻射環(huán)境中，在這種輻射環(huán)境中微處理器的正常運行可能會受到單粒子效應的影響而中斷，使處理器運行錯誤，因此對處理器的穩(wěn)定性和可靠性提出了更高的要求。
　　本文基于LEON2處理器IP核，對設計進行了抗輻照加固，并做了詳細的功能仿真及FPGA驗證，并且對設計進行了綜合和靜態(tài)時序分析。
　　論文研究的

2、主要內容為：
　　1．研究了空間輻照環(huán)境對處理器行為的影響機理，這主要涉及到兩方面的問題，輻射總劑量和單粒子效應的問題，單粒子效應又分為單粒子翻轉（SEU）和單粒子閉鎖（SEL）兩個問題，通過對單粒子效應的分析對其提出了可行的電路加固技術。
　　2．研究了LEON2處理器的內部結構及性能特點。介紹了AMBA總線協(xié)議及其特點。
　　3．討論了電路的加固技術，詳細分析了三模冗余對電路進行加固的原理和結構及三模冗余技術利用D

3、C綜合的實現(xiàn)方法。并且介紹了EDAC技術和SOI技術，由于SOI工藝的特點使得采用SOI工藝的微處理器的抗輻射能力大大增強。
　　4．介紹了LEON2功能驗證平臺及驗證方法，對系統(tǒng)進行了詳細的功能驗證。
　　5．介紹了FPGA驗證的流程，并對系統(tǒng)進行了FPGA的原型驗證，采用C語言針對處理器的各個功能模塊編寫了相應的測試程序，利用調試工具Grmon和Chipscope對測試結果進行觀察。
　　6．介紹了DC綜合的流程，