碳化硅超聲-電化學拋光仿真與研拋實驗研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、碳化硅是第三代半導體材料,具有優(yōu)良的電性能與物理化學性能。同時,碳化硅也是一種超硬材料,具有脆性大、對缺陷敏感、抗沖擊性差、化學惰性極強的特點,因此加工難度很大。傳統(tǒng)的磨削方法獲得的表面質量較差,現行的幾種精密拋光方法則去除率很低。
  超聲波—電化學拋光是結合了電化學拋光與超聲波輔助拋光的復合拋光技術,在模具加工領域已取得顯著的研究成果,但目前尚未有將該技術應用于碳化硅加工的研究。通過對碳化硅超聲波—電化學拋光過程的流場、電場仿

2、真分析與實驗研究,論文探索了該方法實現碳化硅高效去除的可行性,獲得了不同工藝參數對研拋效果的影響規(guī)律,對碳化硅高效超精密加工具有重要的理論和指導意義。
  首先進行流場仿真分析,針對不同的研拋變量,利用Fluent軟件建立了三種不同的仿真模型;分別研究超聲振動、流體膜厚度與拋光墊打孔對流場的速度、壓力與氣相分布等特征的影響規(guī)律。結果顯示:超聲振動會使試件表面的流體劇烈變化,產生極強的剪切流與高壓作用;流體膜厚度越小,研拋表面承受的

3、壓力越大,剪切流越強,加工效果越好;拋光墊上的小孔會阻礙試件表面的流體流動,使流場的壓力出現臺階變化,有利用超聲空化的產生。
  然后進行電場分析,利用Ansoft Maxwell軟件,分別研究研磨液電導率、流體膜厚度與試件材料對電場分布的影響規(guī)律。結果表明:電壓通過試件時并不擊穿試件內部,而是由側面向下傳導;隨著研磨液電導率升高,試件表面的電流密度線性增大且效果顯著;流體膜厚度的變化對試件表面的電場分布影響很小,在一定范圍內,流

4、體膜厚度越小,表面電流越高;在相同的仿真模型中,碳化硅試件在研拋表面的電流密度比鐵、銅等良導體降低了約20%。
  最后,自主研制超聲波—電化學研拋實驗機,實現超聲輔助、電壓加載與實時數據采集。通過系列研磨與拋光實驗,獲得了超聲輔助、外加電壓與研磨液組分對碳化硅摩擦磨損性能的影響規(guī)律。實驗研究表明:試件對研拋盤的摩擦系數主要取決于研磨液的成分,相同條件下金剛石懸浮液可使SiC試件去除最快;向試件施加正電壓與超聲輔助都能提高材料去除

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