1、近幾年，光子晶體光纖由于其獨(dú)特的光學(xué)特性而備受關(guān)注，光子晶體光纖后處理技術(shù)是對(duì)光子晶體光纖進(jìn)行處理而獲得的一些具有特殊結(jié)構(gòu)參數(shù)光纖的技術(shù)，光子晶體光纖特殊的光學(xué)特性及其靈活地后處理技術(shù)可以運(yùn)用于普通單模光纖難以實(shí)現(xiàn)的光學(xué)系統(tǒng)中。空氣孔塌縮技術(shù)是光子晶體光纖后處理技術(shù)的一種，是進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)光子晶體光纖潛在應(yīng)用價(jià)值的一種重要技術(shù)手段。
　　本論文是基于氣壓輔助下的空氣孔塌縮技術(shù)展開(kāi)的，運(yùn)用此技術(shù)做了兩項(xiàng)研究：氣壓輔助下的光子晶體光纖與普

2、通單模光纖的低損耗熔接和氣壓輔助下的選擇性空氣孔塌縮技術(shù)，主要內(nèi)容如下：
　　1.詳細(xì)介紹了光子晶體光纖的性質(zhì)、應(yīng)用和應(yīng)用中尚存的問(wèn)題及光子晶體光纖與普通單模光纖熔接和選擇性空氣孔塌縮技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀。
　　2.分析了光子晶體光纖的熔接損耗，從理論上計(jì)算了纖芯位置偏移，光纖模場(chǎng)失配，空氣孔塌陷以及熔接端面反射的損耗，為降低光子晶體光纖熔接損耗提供理論基礎(chǔ)。
　　3.提出并實(shí)現(xiàn)了利用氣壓輔助的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)普通單模光纖分別與實(shí)

3、芯光子晶體光纖和空芯光子晶體光纖的低損耗熔接方案。通過(guò)對(duì)光子晶體光纖空氣孔填充N2，控制其空氣孔塌陷程度來(lái)降低熔接損耗。運(yùn)用Opti-BPM軟件進(jìn)行仿真，得出最佳的熔接方案，并搭建實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，對(duì)于實(shí)芯光子晶體光纖ESM-12-01,當(dāng)輔助氣壓為1.34bar時(shí)實(shí)現(xiàn)了0.4dB的低損耗熔接；對(duì)于空芯光子晶體光纖 HC-1550-02，當(dāng)輔助氣壓為1.65bar時(shí)實(shí)現(xiàn)了1.05dB的低損耗熔接。
　　4.在選擇性空氣孔塌縮