GaAs基雙δ摻雜PHEMT材料的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、半導體技術在經(jīng)過幾十年的發(fā)展之后,元素半導體和化合物半導體成為半導體領域中兩類主要的半導體。硅半導體器件和集成電路占據(jù)了半導體市場的90%以上,而化合物半導體中的砷化鎵半導體材料研究時間長,工藝也最成熟。
  GaAs器件的遷移率可以高達6000cm2/V·s,禁帶寬度較寬室溫下為1.424eV工作溫度上限高,且為直接帶隙半導體發(fā)光效果好,制成的異質(zhì)結器件電子濃度大。GaAs材料的應用廣泛,器件種類多,如高電子遷移晶體管HEMT,

2、異質(zhì)結雙極晶體管HBT,霍爾器件(傳感器),以及各種光電器件諸如LED、量子阱激光器、太陽能電池等。
  GaAs基的HEMT以高功率、低噪聲廣泛應用于移動通訊、衛(wèi)星接收、微波低噪聲、信號的放大和發(fā)射等領域。GaAs贗配高電子遷移率晶體管(PHEMT)為HEMT的改進型,具有更大的二維電子氣濃度(2DEG)和更高的遷移率,其功率、頻率和噪聲特性更加優(yōu)良。為了獲得具有更高的ns×μn,PHEMT由單異質(zhì)結向雙異質(zhì)結發(fā)展,在溝道層的下

3、方生長摻雜的反結,形成方形量子勢阱,提高對二維電子氣的限制作用,提高器件的性能。但結果并不像預期的那樣,初步估計是由于反結界面的不平整和缺陷造成的。
  論文工作基于本課題組的前期研究基礎,研究MBE工藝中InGaAs在AlGaAs上的外延機理與生長模式,通過控制優(yōu)化AlGaAs隔離層和InGaAs溝道層的生長工藝,改善材料結構中AlGaAs/InGaAs反結的界面性能,從而同時獲得高載流子濃度與高電子遷移率,實現(xiàn)了性能較優(yōu)異的高

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