1、復(fù)合絕緣子因其重量輕、機械強度高、耐污閃性能好、運行維護方便等優(yōu)點在電力系統(tǒng)中得到了廣泛應(yīng)用。但復(fù)合絕緣子仍不斷發(fā)生污閃，這與現(xiàn)有的人工污穢試驗僅考慮鹽密的影響不無關(guān)系。因此，本文選擇110kV復(fù)合絕緣子為試品，在人工霧室中研究了灰密(NSDD)和鹽密(ESDD)對其污閃特性的影響，并分析了復(fù)合絕緣子的閃絡(luò)過程和閃絡(luò)機理。 本文研究表明：人工污穢試驗中，復(fù)合絕緣子污閃電壓Uf與 ESDD和NSDD均有關(guān)，但二者的影響是彼此獨立的

2、。隨著ESDD 或NSDD的增加，其Uf均按冪函數(shù)規(guī)律降低，ESDD和NSDD對Uf影響的特征指數(shù)分別為0.106、0.140, 即對于復(fù)合絕緣子，灰密的影響大于鹽密，這與瓷絕緣子相反。如普通懸式瓷絕緣子分別為0.24、0.14?；颐軐ξ坶W電壓影響的原因有二：一是吸收更多的水分，二是阻礙復(fù)合絕緣子的憎水性的遷移。通過對大量試驗數(shù)據(jù)及試驗結(jié)果的分析，本文得到110kV復(fù)合絕緣子污閃電壓可表示為： 。 通過對110kV復(fù)合絕緣子不同