1、微流控芯片中進行連續(xù)電泳分離時，隨著分離持續(xù)進行，壓力效應對遷移重現(xiàn)性產(chǎn)生了不良影響。表現(xiàn)為分離過程中微通道內(nèi)出現(xiàn)反向于電滲流的壓力回流，造成分析結果中峰高重現(xiàn)性和遷移時間重現(xiàn)性較差，峰高RSD和遷移時間RSD分別高達近20％和25％，嚴重影響了分析結果的準確性。 本文通過實驗觀測，證實了壓力回流的存在。針對由壓力回流引起的壓力效應這一現(xiàn)象展開研究，對其產(chǎn)生機理的兩方面：靜水壓力和拉普拉斯力，通過計算分析了二者對于壓力回流各自的

2、影響程度，發(fā)現(xiàn)對于誘發(fā)壓力回流的因素，在連續(xù)電泳分離的初期以拉普拉斯力為主；隨分離持續(xù)進行，液面差升高帶來的靜水壓力逐漸成為主要因素。但在整個分離過程中，拉普拉斯力對于導致壓力回流出現(xiàn)的作用更為顯著，不可忽略。在此基礎上，提出改進措施，包括：減小微通道的水力直徑、增大儲液池直徑、提高儲液池的親水性。通過流場仿真計算，優(yōu)化了微流控芯片上微通道的水力直徑。由此提出一種改進型微流控芯片。選用由濕法刻蝕技術制作的硅微模具，采用熱壓鍵合工藝制作改

3、進型微流控芯片，微通道橫截面為70μm×40μm，利用玻璃制作儲液池，并且對其進行等離子體表面改性處理以提高儲液池內(nèi)壁的親水性，利用熱熔膠將親水性儲液池與微流控芯片實現(xiàn)粘結。在進行實驗前，對提供毛細管電泳所需電場的直流高壓電源進行了改進，通過上位機的RS232串口對直流高壓電源進行實時控制，編寫并調(diào)試了串口通信控制程序。在改進后的微流控芯片檢測平臺上，利用制作出的改進型微流控芯片進行連續(xù)電泳分離實驗，分別考察了片間峰高重現(xiàn)性和片間遷移時