1、天線系數(shù)是輻射類的EMI測試中主要不確定度來源之一，如果天線沒有被準(zhǔn)確地校準(zhǔn)，會(huì)影響到后續(xù)所有的測試過程。但是，要準(zhǔn)確地校準(zhǔn)天線通常需要使用高質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)測試場地，而場地質(zhì)量又需要已知天線系數(shù)的天線來驗(yàn)證，這樣在場地質(zhì)量驗(yàn)證和天線校準(zhǔn)之間就存在量值循環(huán)問題。對于天線校準(zhǔn)的方法，至今仍然有一些問題尚未很好地解決，譬如未考慮近場耦合問題以及平衡不平衡轉(zhuǎn)換器對天線系數(shù)測量結(jié)果的影響等等。尤其是在低頻（30～180MHz）的情況下近場耦合的影響相

2、當(dāng)明顯，給測量帶來很大的誤差，該影響也被ANSI C63．5明確地指出。這是由于天線校準(zhǔn)的計(jì)算公式基于一些假設(shè)，沒有考慮高次項(xiàng)和天線與地平面間耦合、天線間相互耦合對天線特性的影響。另外，平衡不平衡轉(zhuǎn)換器的影響也會(huì)引起測量的不確定度的大大增加。 針對這些問題，本文以數(shù)值計(jì)算方法為工具，首先分析了平衡不平衡轉(zhuǎn)換器對不同類型EMC線天線的影響；然后分別描述了兩種考慮平衡不平衡轉(zhuǎn)換器的方案，并詳細(xì)闡述了它們的數(shù)值計(jì)算過程。本文還利用已知

3、平衡不平衡轉(zhuǎn)換器法根據(jù)特定的平衡不平衡轉(zhuǎn)換器結(jié)構(gòu)對近場測試中必然存在的近場耦合進(jìn)行了定量分析，包括天線與地平面間的耦合、天線間相互耦合等對天線方向性系數(shù)、天線輸入阻抗和場地衰減的影響。最后在常規(guī)EMC測試的四種狀態(tài)下根據(jù)特定的平衡不平衡轉(zhuǎn)換器結(jié)構(gòu)計(jì)算出了近場耦合系數(shù)，并且盡可能地驗(yàn)證了數(shù)值計(jì)算的結(jié)果。 由于國內(nèi)的實(shí)際測量場地不完善，存在著場地尺寸不足、周圍有反射物和環(huán)境中的電波干擾等缺陷。本文首先從時(shí)域研究場地本身存在的各種干擾