1、隨著衛(wèi)星通信技術的發(fā)展，衛(wèi)星光通信已經成為這個領域最重要的發(fā)展方向之一。采用波分復用技術是提高傳輸數據率的一個有效途徑，同時由于該技術在增加通信容量時不會額外增加星上光通信系統的復雜性，以及通信系統的重量和體積，所以在星上采用波分復用技術將是衛(wèi)星光通信下一階段的發(fā)展趨勢。
　　光纖布喇格光柵作為波分復用/解復用單元具有輕便、全光纖結構易與其它光纖器件集成、被動元件不耗電能等優(yōu)點。而空間存在著惡劣的輻射環(huán)境，而其中主要是電離輻射會對

2、光纖材料造成影響。因此有必要考察光纖布喇格光柵在電離輻射下的可靠性。本文從理論上分析了電離輻射環(huán)境對光柵折射率的影響，并用電子輻射模擬電離輻射效應，進行了實驗研究。主要包括以下幾方面：
　　分析了電離輻射對光纖布喇格光柵的影響。從理論上分析了電離輻射對光柵的影響，推導出了色心產生及退化的公式。并通過推導得知光纖布喇格光柵的折射率變化與吸收劑量之間存在一定關系。
　　進行了光纖布喇格光柵的電子輻射實驗。通過電子輻射模擬電離輻射

3、效應進行了實驗，實驗發(fā)現光纖布喇格光柵峰值波長的最大漂移量足以引起DWDM系統串音，而反射率和邊模抑制比未見明顯變化。實驗數據與推導出的模型符合較好。
　　進行了光纖布喇格光柵的輻射退火實驗。通過對電子輻射后的光柵樣品性能的跟蹤測試發(fā)現，在輻射結束后，光柵的性能參數得到恢復。并進行了50℃與25℃下的對比退火實驗，發(fā)現高溫退火過程中輻射中大于60％的折射率變化得到恢復，大于常溫退火過程。
　　結合本次實驗結果及前人的工作，對