1、電子產(chǎn)品的可靠性測試一、電子產(chǎn)品的概念電子產(chǎn)品，是指采用電子信息技術(shù)制造的相關(guān)產(chǎn)品及其配件，有兩個顯著特征：一是需要電源才能工作；二是工作載體均是數(shù)字信息或者模擬信息的流轉(zhuǎn)。二、電子產(chǎn)品的分類1）電子元件：指在生產(chǎn)加工時不改變分子成分的成品。如電阻器、電容器、電感器。因為它本身不產(chǎn)生電子，它對電壓、電流無控制和變換作用，所以又稱無源器件。按分類標準，電子元件可分為11個大類。2）電子器件：指在生產(chǎn)加工時改變了分子結(jié)構(gòu)的成品。例如晶體管、

2、電子管、集成電路。因為它本身能產(chǎn)生電子，對電壓、電流有控制、變換作用（放大、開關(guān)、整流、檢波、振蕩和調(diào)制等），所以又稱有源器件。按分類標準，電子器件可分為12個大類，可歸納為真空電子器件和半導體器件兩大塊。3）電子儀器：是指檢測、分析、測試電子產(chǎn)品性能、質(zhì)量、安全的裝置。大體可以概括為電子測量儀器、電子分析儀器和應用儀器三大塊，有光學電子儀器、電子元件測量儀器、動態(tài)分析儀器等24種細分類。4）電子工業(yè)專用設備：是指在電子工業(yè)生產(chǎn)中，為某

3、種電子產(chǎn)品的某一工藝過程而專門設計制造的設備，它是根據(jù)電子產(chǎn)品分類來進行分類的，如集成電路專用設備、電子元件專用設備。共有十余類。三、可靠性試驗的定義為評價分析電子產(chǎn)品的可靠性而進行的試驗，廣義說，包括各種環(huán)境條件下的模擬試驗和現(xiàn)場試驗。按試驗項目可分為環(huán)境試驗、壽命試驗和特殊試驗；按試驗目的可分為篩選試驗、鑒定試驗和驗收試驗；按試驗性質(zhì)可分為破壞性試驗和非破壞性試驗。通過可靠性試驗，可以確定電子產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下工作或存儲時的可靠性

4、特征量，為使用、生產(chǎn)和設計提供有用的數(shù)據(jù)；也可以暴露產(chǎn)品在設計、原材料和工藝流程等方面存在的問題。通過失效分析、質(zhì)量控制等一系列反饋措施，可使產(chǎn)品存在的問題逐步解決，提高產(chǎn)品可靠性。四、可靠性驗證的主要項目及檢測儀器1）氣候環(huán)境試驗min；高低溫條件分為三檔，A檔為0210℃~100102℃，B檔為一55”llc～12510℃，c檔為6550℃一15010℃A檔一般用水作載體，B檔和C檔用過碳氟化合物作載體。作載體的物質(zhì)不得含有氯和氫等

5、腐蝕性物質(zhì)或強氧化劑物質(zhì)?！蜐裨囼瀮x器：高低溫濕熱試驗箱該試驗是以施加加速應力的方法評定微電路在潮濕和炎熱條件下抗衰變的能力，是針對典型的熱帶氣候環(huán)境設計的。微電路在潮濕和炎熱條件下衰變的主要機理是由化學過程產(chǎn)生的腐蝕和由水汽的浸入、凝露、結(jié)冰引起微裂縫增大的物理過程。試驗也考核在潮濕和炎熱條件下構(gòu)成微電路材料發(fā)生或加劇電解的可能性，電解會使絕緣材料電阻宰發(fā)生變化，使抗介質(zhì)擊穿的能力變?nèi)酢Ｔ囼灄l件：潮熱試驗有兩種，即文變潮熱試驗和恒定

6、潮熱試驗。交受潮熱試驗要求被試樣品在相對濕度為90％～100％的范圍內(nèi)，用一定的時間(‘般25h)使溫度從25℃上升到65℃，井保持3h以上；然后再在相對濕度為80％一100％的范圍內(nèi)，用一定的時間(—般2.5h)使溫度從6s℃下降到25℃，再進行一次這樣的循環(huán)后再在任意濕度的情況下將溫度下降到一10c，并保持3h以上‘再恢復到溫度為25℃，相對濕度等于或大于80％的狀態(tài)。這就完成了一次文變潮熱的大循環(huán)，大約需要24h。一般一次耐濕試驗

7、，上述交變潮熱的大循環(huán)要進行10次試驗時被試樣品要施加—定的電壓。試驗箱內(nèi)每分鐘的換氣量要求大于試驗箱容積的5倍。被試樣品應該是經(jīng)受過非破壞性引線牢固性試驗的樣品※低氣壓試驗儀器：低氣壓試驗箱、真空烘箱該試驗目的是考核產(chǎn)品對低氣壓工作環(huán)境(如高空工作環(huán)境)的適應能力。當氣壓減小時空氣或絕緣材料的絕緣強度會減弱；易產(chǎn)生電暈放電、介質(zhì)損耗增加、電離；氣壓減小使散熱條件變差，會使元器件溫度上升。這些因素都會使被試樣品在低氣壓條件下喪失規(guī)定的功

8、能，有時會產(chǎn)生永久性損傷。試驗條件：被試樣品置于密封室內(nèi)，加規(guī)定的的電壓，從密封室降低氣壓前20min直至試驗結(jié)束的一段時間內(nèi)，要求樣品溫度保持在251.0℃的范圍。密封室從常壓降低到規(guī)定的氣壓再恢復到常壓，并監(jiān)視這‘過程中被試樣品能否正常工作，微電路被試樣品所施加電壓的頻率在直流到20MHz的范圍內(nèi)，電壓引出端出現(xiàn)電暈放電被視為失效。試驗的低氣壓值是與海拔高度相對應的，并分若干檔如微電路低氣壓試驗的A檔氣壓值是58kPa，對應高度是4