1、電子產(chǎn)品的可靠性測試一、電子產(chǎn)品的概念電子產(chǎn)品，是指采用電子信息技術(shù)制造的相關(guān)產(chǎn)品及其配件，有兩個顯著特征：一是需要電源才能工作；二是工作載體均是數(shù)字信息或者模擬信息的流轉(zhuǎn)。二、電子產(chǎn)品的分類1）電子元件：指在生產(chǎn)加工時不改變分子成分的成品。如電阻器、電容器、電感器。因為它本身不產(chǎn)生電子，它對電壓、電流無控制和變換作用，所以又稱無源器件。按分類標準，電子元件可分為11個大類。2）電子器件：指在生產(chǎn)加工時改變了分子結(jié)構(gòu)的成品。例如晶體管、

2、電子管、集成電路。因為它本身能產(chǎn)生電子，對電壓、電流有控制、變換作用（放大、開關(guān)、整流、檢波、振蕩和調(diào)制等），所以又稱有源器件。按分類標準，電子器件可分為12個大類，可歸納為真空電子器件和半導(dǎo)體器件兩大塊。3）電子儀器：是指檢測、分析、測試電子產(chǎn)品性能、質(zhì)量、安全的裝置。大體可以概括為電子測量儀器、電子分析儀器和應(yīng)用儀器三大塊，有光學(xué)電子儀器、電子元件測量儀器、動態(tài)分析儀器等24種細分類。4）電子工業(yè)專用設(shè)備：是指在電子工業(yè)生產(chǎn)中，為某

3、種電子產(chǎn)品的某一工藝過程而專門設(shè)計制造的設(shè)備，它是根據(jù)電子產(chǎn)品分類來進行分類的，如集成電路專用設(shè)備、電子元件專用設(shè)備。共有十余類。三、可靠性試驗的定義為評價分析電子產(chǎn)品的可靠性而進行的試驗，廣義說，包括各種環(huán)境條件下的模擬試驗和現(xiàn)場試驗。按試驗項目可分為環(huán)境試驗、壽命試驗和特殊試驗；按試驗?zāi)康目煞譃楹Y選試驗、鑒定試驗和驗收試驗；按試驗性質(zhì)可分為破壞性試驗和非破壞性試驗。通過可靠性試驗，可以確定電子產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下工作或存儲時的可靠性

4、特征量，為使用、生產(chǎn)和設(shè)計提供有用的數(shù)據(jù)；也可以暴露產(chǎn)品在設(shè)計、原材料和工藝流程等方面存在的問題。通過失效分析、質(zhì)量控制等一系列反饋措施，可使產(chǎn)品存在的問題逐步解決，提高產(chǎn)品可靠性。四、可靠性驗證的主要項目及檢測儀器1）氣候環(huán)境試驗min；高低溫條件分為三檔，A檔為0210℃~100102℃，B檔為一55”llc～12510℃，c檔為6550℃一15010℃A檔一般用水作載體，B檔和C檔用過碳氟化合物作載體。作載體的物質(zhì)不得含有氯和氫等

5、腐蝕性物質(zhì)或強氧化劑物質(zhì)?！蜐裨囼瀮x器：高低溫濕熱試驗箱該試驗是以施加加速應(yīng)力的方法評定微電路在潮濕和炎熱條件下抗衰變的能力，是針對典型的熱帶氣候環(huán)境設(shè)計的。微電路在潮濕和炎熱條件下衰變的主要機理是由化學(xué)過程產(chǎn)生的腐蝕和由水汽的浸入、凝露、結(jié)冰引起微裂縫增大的物理過程。試驗也考核在潮濕和炎熱條件下構(gòu)成微電路材料發(fā)生或加劇電解的可能性，電解會使絕緣材料電阻宰發(fā)生變化，使抗介質(zhì)擊穿的能力變?nèi)?。試驗條件：潮熱試驗有兩種，即文變潮熱試驗和恒定

6、潮熱試驗。交受潮熱試驗要求被試樣品在相對濕度為90％～100％的范圍內(nèi)，用一定的時間(‘般25h)使溫度從25℃上升到65℃，井保持3h以上；然后再在相對濕度為80％一100％的范圍內(nèi)，用一定的時間(—般2.5h)使溫度從6s℃下降到25℃，再進行一次這樣的循環(huán)后再在任意濕度的情況下將溫度下降到一10c，并保持3h以上‘再恢復(fù)到溫度為25℃，相對濕度等于或大于80％的狀態(tài)。這就完成了一次文變潮熱的大循環(huán)，大約需要24h。一般一次耐濕試驗

7、，上述交變潮熱的大循環(huán)要進行10次試驗時被試樣品要施加—定的電壓。試驗箱內(nèi)每分鐘的換氣量要求大于試驗箱容積的5倍。被試樣品應(yīng)該是經(jīng)受過非破壞性引線牢固性試驗的樣品※低氣壓試驗儀器：低氣壓試驗箱、真空烘箱該試驗?zāi)康氖强己水a(chǎn)品對低氣壓工作環(huán)境(如高空工作環(huán)境)的適應(yīng)能力。當(dāng)氣壓減小時空氣或絕緣材料的絕緣強度會減弱；易產(chǎn)生電暈放電、介質(zhì)損耗增加、電離；氣壓減小使散熱條件變差，會使元器件溫度上升。這些因素都會使被試樣品在低氣壓條件下喪失規(guī)定的功

8、能，有時會產(chǎn)生永久性損傷。試驗條件：被試樣品置于密封室內(nèi)，加規(guī)定的的電壓，從密封室降低氣壓前20min直至試驗結(jié)束的一段時間內(nèi)，要求樣品溫度保持在251.0℃的范圍。密封室從常壓降低到規(guī)定的氣壓再恢復(fù)到常壓，并監(jiān)視這‘過程中被試樣品能否正常工作，微電路被試樣品所施加電壓的頻率在直流到20MHz的范圍內(nèi)，電壓引出端出現(xiàn)電暈放電被視為失效。試驗的低氣壓值是與海拔高度相對應(yīng)的，并分若干檔如微電路低氣壓試驗的A檔氣壓值是58kPa，對應(yīng)高度是4