

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶(hù)提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡(jiǎn)介
1、釬料凸臺(tái)和互連焊點(diǎn)的重熔是面陣封裝的關(guān)鍵技術(shù)之一。由于感應(yīng)加熱方法的三維選擇性加熱,加熱集中,加熱速度快,加熱效率高等特點(diǎn),在面陣封裝中受到了廣泛的關(guān)注。由于感應(yīng)加熱是對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行局部選擇性加熱,故互連焊點(diǎn)的接合機(jī)制具有一定的特殊性,界面處生成的金屬間化合物的形貌與傳統(tǒng)整體加熱重熔方法制備的焊點(diǎn)存在一定的差異。
本課題主要基于感應(yīng)加熱在面陣封裝中的應(yīng)用,研究了感應(yīng)加熱時(shí)焊點(diǎn)界面冶金反應(yīng)的特殊接合機(jī)制以及界面金屬間化合物形貌對(duì)焊點(diǎn)
2、可靠性的影響。研究?jī)?nèi)容主要包括以下兩方面:
(1)通過(guò)與傳統(tǒng)熱風(fēng)重熔釬料凸臺(tái)的對(duì)比,研究了高頻感應(yīng)加熱時(shí)液態(tài)釬料與固態(tài)焊盤(pán)以及在后續(xù)的老化過(guò)程中固態(tài)釬料與固態(tài)焊盤(pán)之間的界面反應(yīng),并對(duì)反應(yīng)中生成的界面金屬間化合物形貌以及其形成的機(jī)制作了討論。實(shí)驗(yàn)表明,隨著反應(yīng)溫度的增加,金屬間化合物層逐漸由扇貝形轉(zhuǎn)變成棱鏡形,高頻感應(yīng)加熱重熔時(shí)焊盤(pán)界面外圍存在的棱鏡狀金屬間化合物表明感應(yīng)加熱時(shí)溫度不均勻。扇貝狀金屬間化合物的生長(zhǎng)主要由熟化通量控
3、制,界面化合物的總量增長(zhǎng)相對(duì)緩慢。棱鏡狀金屬間化合物的生長(zhǎng)主要由界面反應(yīng)通量控制,由于晶粒間的幾乎沒(méi)有熟化作用,故 Cu原子的快速擴(kuò)散通道得以保存,界面金屬間化合物的總量增長(zhǎng)相對(duì)較快。固相老化過(guò)程中不同形貌的界面金屬間化合物層的增長(zhǎng)僅受焊盤(pán)Cu原子擴(kuò)散的影響,其厚度均隨老化時(shí)間的平方根呈線(xiàn)性增長(zhǎng)。
(2)對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行剪切實(shí)驗(yàn),研究了不同剪切速度下不同形貌的金屬間化合物對(duì)焊點(diǎn)可靠性的影響。分析研究表明,由于釬料在室溫下的高應(yīng)變速率
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶(hù)所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶(hù)上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶(hù)上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶(hù)因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 微焊點(diǎn)界面反應(yīng)的交互作用及可靠性研究.pdf
- 感應(yīng)加熱重熔技術(shù)
- 倒裝芯片與OSP銅焊盤(pán)組裝焊點(diǎn)的界面反應(yīng)及可靠性研究.pdf
- 微互連高度下Sn-Bi-Ag焊點(diǎn)的界面反應(yīng)及可靠性研究.pdf
- Sn-8Zn-3Bi焊點(diǎn)微互連高度下界面反應(yīng)及可靠性研究.pdf
- 鍍層與SnAgCu焊膏的界面反應(yīng)對(duì)焊點(diǎn)可靠性的影響.pdf
- MOCVD反應(yīng)室感應(yīng)加熱裝置的研究.pdf
- 化學(xué)鍍NiPdAu焊盤(pán)與SnAgCu焊料的界面反應(yīng)及BGA焊點(diǎn)可靠性研究.pdf
- 電磁感應(yīng)加熱理論研究及強(qiáng)力感應(yīng)加熱器設(shè)計(jì).pdf
- 焊點(diǎn)的質(zhì)量與可靠性
- 行波磁場(chǎng)感應(yīng)加熱.pdf
- 電子封裝中無(wú)鉛焊點(diǎn)的界面演化和可靠性研究.pdf
- 無(wú)鉛釬料與不銹鋼焊盤(pán)界面反應(yīng)及其對(duì)焊點(diǎn)可靠性影響.pdf
- SMT焊點(diǎn)的可靠性研究及CBGA焊點(diǎn)有限元分析.pdf
- 高頻感應(yīng)加熱電源.pdf
- 電磁感應(yīng)加熱
- BGA封裝焊點(diǎn)可靠性及疲勞壽命分析.pdf
- PBGA疊層焊點(diǎn)可靠性技術(shù)研究.pdf
- 無(wú)鉛激光軟釬焊焊點(diǎn)可靠性研究.pdf
- 串聯(lián)諧振感應(yīng)加熱電源研究.pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論